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      涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

      涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

      簡要描述:
      涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

      技術參數
      顯示屏
      液晶屏+OLED耐低溫屏
      主機尺寸
      100* 60* 24mm
      重量(含電池)
      80g

      產品時間:2023-06-16

      訪問量:906

      廠商性質:生產廠家

      生產地址:

      品牌其他品牌

      涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

      技術參數
      顯示屏
      液晶屏+OLED耐低溫屏
      主機尺寸
      100* 60* 24mm
      重量(含電池)
      80g

      涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

      測頭
      紅寶石
      測量原理
      Fe:霍爾效應/NFe:電渦流效應
      探頭類型
      內置-體式
      測量范圍
      0.0um - 2000μm
      0.1μm: (0um-99.9μm)
      分辨率
      1μm: (100μm- 999μm)
      0.01mm: (1.00mm-2.00mm)
      測量精度
      ≤土(39%讀數+2μm)
      單位.
      μm/ mil
      測量間隔
      0.5S
      小測量區域
      0=25mm
      小曲率半徑
      凸面: 5mm/凹面: 25mm
      小基體厚度
      Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm
      供電方式
      2節1.5V AAA堿性電池
      工作溫度范圍
      -20°C~50°C
      -40°C~50°C
      儲存溫度范圍
      -20°C~60°C
      -50°C~60°C


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