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      激光平面干涉儀  CE36-INF60-LP/M107501

      激光平面干涉儀 CE36-INF60-LP/M107501

      簡要描述:
      激光平面干涉儀 CE36-INF60-LP/M107501?
      大測量口徑:Φ60mm
      測量方式:菲索干涉原理
      光源:半導體激光器(635nm)

      產品時間:2019-06-13

      訪問量:1224

      廠商性質:生產廠家

      生產地址:

      激光平面干涉儀  CE36-INF60-LP/M107501

      緊湊結構、小型化、防塵效果好
      批量檢測平面光學元件表面面型測量。

      激光平面干涉儀  CE36-INF60-LP/M107501
      大測量口徑:Φ60mm
      測量方式:菲索干涉原理
      光源:半導體激光器(635nm)
      對準方式:簡單兩點對準
      標準參照鏡面形精度:p-v:λ/20

       

       

      激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀激光平面干涉儀

       

       

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