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      半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

      半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

      簡要描述:
      半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

      二、測試參數
      1. 二極管
      VF、IR、BVR
      2. 穩壓(齊納)二極管
      VF、IR、BV Z
      3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型)

      產品時間:2023-05-18

      訪問量:1415

      廠商性質:生產廠家

      生產地址:

      品牌其他品牌

      半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

      一、產品特點:
      測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、工作穩定,具有保護系統和被測器件的能力。測試儀由計算機操控,測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外,還具有曲線掃描功能(圖示儀功能)。系統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統軟件穩定、硬件故障率低,在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標及國標要求。

      半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

      二、測試參數
      1. 二極管
      VF、IR、BVR
      2. 穩壓(齊納)二極管
      VF、IR、BV Z
      3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型)
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
      4. 可控硅整流器(晶閘管)
      IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
      5. 場效應管
      IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
      6. 光電耦合器
      VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
      *7.三端穩壓器
      VO、SV、ID、IDV
      被測器件圖形
      三、測試參數范圍
      晶體管
      測試參數
      測試范圍
      ICEO
      ICBO
      IEBO
      1nA-100nA
      100nA-1uA
      1uA-100uA
      100uA-10mA
      VCE(sat)
      VBE(sat)
      0.10V-30V
      VBE(VBE(on))
      0.10V-30V
      hFE
      1-99999
      V(BR)EBO
      0.10V-30V
      V(BR)CEO
      V(BR)CBO
      0. 10V-50V
      50V-1499V
      二極管
      測試參數
      測試范圍
      IR
      1nA-100nA
      100nA-1uA
      1uA-100uA
      100uA-10mA
      VF
      0.10V-30V
      V(BR)
      1V-50V
      50V-1499V
      穩壓二極管
      測試參數
      測試范圍
      IR
      1nA-100nA
      100nA-1uA
      1uA-100uA
      100uA-10mA
      VF
      0.10V-30V
      VZ
      0.10V-50V
      三端穩壓器

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