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      數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

      數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

      簡要描述:
      數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差 ≤±2.5%FS
      重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
      短期漂移 ≤±0.5%FS
      長期漂移 ≤±2.5%FS。

      產(chǎn)品時(shí)間:2020-09-03

      訪問量:1257

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

      生產(chǎn)地址:

      數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 

      性能特點(diǎn)
      ?精度高,穩(wěn)定性好。
      ?檢測元件具有恒溫環(huán)境保證了儀器高穩(wěn)定性,并使儀器更快的進(jìn)入到正常工作狀態(tài),減小了機(jī)內(nèi)外溫度變化對其穩(wěn)定性的影響。
      ?儀器在不工作時(shí)自動(dòng)待機(jī),有效的保護(hù)了光源,延長了光源的使用壽命。
      ?經(jīng)濟(jì)耐用,可以在現(xiàn)場長期連續(xù)運(yùn)行。
      造型新穎美觀,使用操作方便

      數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差 ≤±2.5%FS
      重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
      短期漂移 ≤±0.5%FS
      長期漂移 ≤±2.5%FS

       

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