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      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      簡要描述:
      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      技術(shù)參數(shù)
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差≤±2.5%FS
      重復性誤差≤±0.5%FS
      短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS

      產(chǎn)品時間:2024-08-29

      訪問量:876

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

      生產(chǎn)地址:

      品牌其他品牌

      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      技術(shù)參數(shù)
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差≤±2.5%FS
      重復性誤差≤±0.5%FS
      短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
      長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
      化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      技術(shù)參數(shù)
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差≤±2.5%FS
      重復性誤差≤±0.5%FS
      短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
      長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
      化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


      實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

      技術(shù)參數(shù)
      測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
      基本誤差≤±2.5%FS
      重復性誤差≤±0.5%FS
      短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
      長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
      化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


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